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菲希尔XDVM测厚仪
菲希尔XDVM测厚仪，是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖*X－射线光学镜片，*的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层，FISCHERSCOPEX-RAYXDVM测厚仪，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z＝92）。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（*面积）
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2014-04-23 |
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菲希尔XDVM膜厚测金机
菲希尔XDVM膜厚测金机实现了超微小面积，*测量的高功率镀层测量仪，合适微小样品的膜厚测量与熔液分析的*X射线荧光镀层厚度测量仪。菲希尔XDVM膜厚测金机定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z＝92）。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（*面积），如：硬盘镀层、细微的线。有极*，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量。菲希尔XDVM膜厚测金机应用于各种大小不同的五金
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2014-04-23 |
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XRF2000菲希尔X射线膜厚测试仪
XRF2000菲希尔X射线膜厚测试仪，能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：
钛(Ti)–铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-92，0.1-0.8μ
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2014-04-23 |
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（菲希尔电镀膜厚仪）菲希尔镀层测厚仪/膜厚仪
菲希尔膜厚测试仪（菲希尔电镀膜厚仪）菲希尔镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量仪/镀层测厚仪/膜厚测量仪/镀层厚度检测仪/测厚仪/膜厚分析仪/镀层分析/无损检测仪/深圳测厚仪/进口测厚仪/金属膜厚测试仪/电镀膜厚测量仪/电镀膜厚检测仪/电镀膜厚测厚仪/金镍测厚仪/铜厚测量仪/菲希尔测厚仪/菲希尔膜厚仪/无损测厚仪/薄膜厚度测量仪/薄膜测厚仪仪/XDL/XUL/XAN/等高科技仪器，由深圳金霖厂价直销，我们金霖公司欢迎各行业的
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2014-04-23 |
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XDAL,XDVM菲希尔（FISCHER）膜厚仪
XDAL,XDVM菲希尔（FISCHER）膜厚仪,FXL镀层厚度分析仪配*的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等符合标准DINISO3497和ASTMB568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号
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2014-04-23 |
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